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Cell&Open Cell 电性能 AOI-Infline 方案
Cell&Open Cell 电性能 AOI-Infline 方案

更 新:2016-08-04

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设备型号

Panray ZN®-Cell&Open   Cell-AOI-Inline

测试内容

点,线缺陷,Mura

测试工艺流程

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DUT 尺寸

2~17(兼容16:9&4:3)

配置相机及镜头

(IC-PMI29 with EL-0050R) x   2sets

配置软件

(TrueTest+TrueMura) x 2sets

配置电脑

HPZ440  x 2sets

点亮方式

探针点亮

上下料方式

人工上下料

点亮机构

探针自动点亮

节拍:

<=15s

设备漏检率

<=0.5%(除以投入总数漏检率)

设备过判率

<=5%(除以投入总数过判率)

测试方式

In-line

设备作业台高度

850mm

点灯机:

客户提供

电气控制方式

PLC+人工触摸屏

设备尺寸

4500mm x 3400mm x 2700mm